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1. Proceedings of the IEEE Workshop on Expert Systems and Pattern Analysis

   October 31, 1986, Paris, France
   Autor*in:

   Erschienen: 1987

   Verlag:  World Scientific Publ. Co., Singapore

   • Bibliographische Angaben
   • Inhaltsangaben
   • Zugang
   • Export

   Hannover: Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek

   Standort:

   Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek

   Signatur:

   FK 8000

   Fernleihe:

   keine Ausleihe von Bänden, nur Papierkopien werden versandt

   Link zum Verbundkatalog:

   Gemeinsamer Bibliotheksverbund (GBV)

   Konstanz: Universität Konstanz, Kommunikations-, Informations-, Medienzentrum (KIM)

   Standort:

   Universität Konstanz, Kommunikations-, Informations-, Medienzentrum (KIM)

   Fernleihe:

   uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

   Link zum Verbundkatalog:

   Südwestdeutscher Bibliotheksverbund (SWB)

   Mannheim: Leibniz-Institut für Deutsche Sprache (IDS), Bibliothek

   Standort:

   Leibniz-Institut für Deutsche Sprache (IDS), Bibliothek

   Fernleihe:

   keine Fernleihe

   Link zum Verbundkatalog:

   Südwestdeutscher Bibliotheksverbund (SWB)

   Ulm: Universität Ulm, Kommunikations- und Informationszentrum, Bibliotheksservices

   Standort:

   Universität Ulm, Kommunikations- und Informationszentrum, Bibliotheksservices

   Signatur:

   QAA 707/1986 C

   Fernleihe:

   uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

   Link zum Verbundkatalog:

   Südwestdeutscher Bibliotheksverbund (SWB)

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   Hinweise zum Inhalt

   Inhaltstext

   Quelle:	Leibniz-Institut für Deutsche Sprache, Bibliothek
   Beteiligt:	Chen, Chi-hau (Hrsg.)
   Sprache:	Englisch
   Medientyp:	Konferenzschrift
   Format:	Druck
   ISBN:	9971504758
   Körperschaften/Kongresse:	Workshop on Expert Systems and Pattern Analysis (1986, Paris)
   Schlagworte:	Pattern perception; Expert systems (Computer science)
   Umfang:	V, 126 S., Ill., graph. Darst.
   Bemerkung(en):	Teilws. Abdr. aus der Zeitschrift: International journal of pattern recognition and artificial intelligence ; Vol. 1, No. 2 (1987)