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  1. Pattern recognition
    introduction and foundations
    Autor*in:
    Erschienen: 1973
    Verlag:  Dowden, Hutchinson & Ross, Stroudsburg, Pa.

    Freie Universität Berlin, Universitätsbibliothek
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Sklansky, Jack (Sonstige)
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    RVK Klassifikation: ES 945
    Schriftenreihe: Benchmark papers in electrical engineering and computer science ; 4
    Schlagworte: Intelligence artificielle; Perception de structure; Perceptrons; Künstliche Intelligenz; Artificial intelligence; Pattern perception; Perceptrons; Mustererkennung
    Umfang: XV, 421 S.
  2. Pattern recognition
    introduction and foundations
    Autor*in:
    Erschienen: 1973
    Verlag:  Dowden, Hutchinson & Ross, Stroudsburg, Pa.

    Universitätsbibliothek Erlangen-Nürnberg, Technisch-naturwissenschaftliche Zweigbibliothek
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Technische Universität München, Universitätsbibliothek
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Technische Universität München, Universitätsbibliothek, Teilbibliotheken Garching
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Universität der Bundeswehr München, Universitätsbibliothek
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Universitätsbibliothek Regensburg
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Sklansky, Jack (Sonstige)
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    RVK Klassifikation: ES 945
    Schriftenreihe: Benchmark papers in electrical engineering and computer science ; 4
    Schlagworte: Intelligence artificielle; Perception de structure; Perceptrons; Künstliche Intelligenz; Artificial intelligence; Pattern perception; Perceptrons; Mustererkennung
    Umfang: XV, 421 S.